Измеритель шероховатости (профилометр) TMR200 производства компании DTek (КНР), предназначен для измерения шероховатости различных поверхностей материалов (металла, пластика и т.д.). Прибор позволяет оценивать шероховатость объектов в соответствии с национальными и международными стандартами.
Ультразвуковой толщиномер обладая мощностью и точностью промышленных экземпляров, выполнен в компактном исполнении, удобным для осуществления контроля вне зависимости от места нахождения объекта инспекции. Металлический корпус с резиновыми протекторами обеспечит неприхотливость к погодным условиям и сохранит от случайных падений устройства.
Ультразвуковой дефектоскоп УД2303 — компактное исполнение промышленного дефектоскопа с набором функций и режимов, которые призваны максимально упростить рутинную работу контроля качества изделий. Ударопрочный корпус из алюминиевого сплава с большой аккумуляторной батареей обеспечит долгий срок службы устройства и позволит использовать прибор в неблагоприятных условиях.
Толщиномер покрытий ТП-2020 предназначен для измерения толщины покрытий на основании черных и цветных металлов. Наличие различных датчиков позволит проводить неразрушающий контроль защитных покрытий с большим диапазоном толщин. Данный толщиномер позволяет использовать датчики для измерения параметров: глубины очаговой коррозии, шероховатости поверхностей, а также проведения температурного контроля, влажности окружающей среды и определения точки росы, покрывая широкий спектр задач одним универсальным блоком.
Наклонный совмещенный преобразователь П121-2,5-70 предназначен для контроля основного металла, сварных соединений, околошовной зоны, листов, штамповок, поковок и других объектов.
Наклонный совмещенный преобразователь П121-2,5-65 предназначен для контроля основного металла, сварных соединений, околошовной зоны, листов, штамповок, поковок и других объектов.
Наклонный совмещенный преобразователь П121-2,5-60 предназначен для контроля основного металла, сварных соединений, околошовной зоны, листов, штамповок, поковок и других объектов.